HIOKI 3535LCR测试仪

HIOKI 3535LCR测试仪是一款高速LCR仪，测量频率可高至120MHz，为比较标准原件提供补偿“负载补偿功能”。

HIOKI 3535LCR测试仪的特点：

100kHz～120MHz的宽频带

高速LCR测试（6ms/采样）

HIOKI 3535LCR测试仪拆卸式前置放大器可选择

为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能

HIOKI 3535LCR测试仪的基本参数：

测量参数	|Z|，|Y|，Q，Rp，Rs(ESR)，G，X，B，θ，Ls，Lp，Cs，Cp，D(tanδ)
前置放大器 决定的测量量程	前置放大器 9700-01 9700-02 9700-03 Z和R 100mΩ～1kΩ 500Ω～10kΩ 5kΩ～100kΩ C 1.33pF～15.9μF 0.133pF～3.18nF 0.1pF～318pF L 1nH～1.59mH 663nH～15.9mH 6.63μH～159mH θ -180.00°～180.00°
测量频率	量程 100kHz～120MHz 分辨率设置 4位（使用前控制板设置） 100.0kHz～1.000MHz 100Hz幅度 1.000MHz～10.00MHz 1kHz幅度 10.00MHz～100.0MHz 10kHz幅度 100.0MHz～120.0MHz 100kHz幅度 使用GP-IB或RS-232C接口时，分辨率为1Hz。 精度 最大 ± 0.005%，相对于设置值
测量电平	开路接口电压（V） 和恒压（CV）模式 5mV～1V,最大20mA(10.000MHz以下) 5mV～500mV,最大10mA（10.01MHz以上） 分辨率 1mV幅度 精度 ±（5%+5mV）×(2+log f)(f为MHz数) 恒流（CC）模式 200μA～20mA,最大1V（10.00MHz以下） 200μA～10mA,最大0.5V（10.01MHz以上） 分辨率 10A幅度 精度 ±（10%+50μA）× (2+log f)(f为MHz数)
HIOKI 3535LCR测试仪的基本精度	Z：± 0.5%rdg. θ：± 0.3°
输出阻抗	50Ω ± 10Ω（100kHz时）
监视	电压 0.000V～1.000V 电流 0.000mA～20.0mA
限制	电压（设置为CC） 0.005V～1.000V 电流(设置为V或CV) 0.20mA～20.00mA
平均	关，2，4，8，16，32，64
触发	内置触发器，外置触发器 触发延时 0.01s～9.99s；0.01s分辨率
比较	可得到两组测量参数：百分比，△%，或绝对值设置（△%即显示测量值与标准值的偏差）
控制盘存储和调用	最多30组
屏幕显示	测量值和比较器的判断结果
显示线数	可设置成3，4，或5；根据参数可能有所不同
打印	拷贝测量值或屏幕显示的要点（需用9442，9593-01和9446）
接口	GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有标准)
操作环境	10～40°C，最大80%rh，无凝结
仓储环境	-10～55°C，最大80%rh，无凝结
供电电源	交流100V～240V，50/60Hz，约50VA
HIOKI 3535LCR测试仪的体积及重量	约360宽×130高×360厚（mm）；8.3kg